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色谱

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正交投影用于多波长色谱重叠峰分析

陈迪钊,崔卉   

  • 出版日期:2000-03-30 发布日期:1994-02-25

  • Online:2000-03-30 Published:1994-02-25

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摘要： 将正交投影分辨 (OPR)技术用于多波长色谱重叠峰分辨 ,当色谱峰中最大重叠度小于或等于波长数时 ,用这一方法能从多波长色谱重叠峰中获得完全真解。基于双波长色谱分析 ,提出了一种新的色谱重叠峰中背景校正、组分数和纯组分信号区确定以及各组分重叠情况的分析方法 ,即双波长特征信息分析 (DWCI)。该法被成功的用于三组分双峰和双组分单峰重叠色谱的分析。

关键词: 多波长色谱, 双波长特征信息分析 , 正交投影, 重叠峰分辨

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